日本stil线阵视觉检测系统MC2-仪器仪表在线

日本stil线阵视觉检测系统MC2

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公司名称秋山科技（东莞）有限公司
品牌
型号
所在地东莞市
厂商性质经销商
更新时间2024/4/27 16:59:10
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产品详情

日本stil线阵视觉检测系统MC2

MC2线阵视觉检测系统完美地解决了传统机器视觉在表面瑕疵检测的痛点，具有明显的优势：

v 无需外接光源照明，光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源；
v 环境光线的变化不影响成像效果，适应性强；
v 适应所有的物体表面，无论是漫反射表面，镜面（高光面）或者透明物体表面；
v 高达80KHz的扫描速度，并可实现非常低的像素尺寸(小像素可达0.2×0.2μm2)；
v gao可至2.6mm的高景深，在景深范围内的任何一个位置都是完美聚焦，成像更为清晰且无需进行Z轴对焦。

优势：
v 无需外接光源照明，光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源；
v 环境光线的变化不影响成像效果，适应性强；
v 适应所有的物体表面，无论是漫反射表面，镜面（高光面）或者透明物体表面；
v 高达80KHz的扫描速度，并可实现非常低的像素尺寸(小像素可达0.2×0.2μm2)；
v gao可至2.6mm的高景深，在景深范围内的任何一个位置都是完美聚焦，成像更为清晰且无需进行Z轴对焦。

日本stil线阵视觉检测系统MC2

MC2四种镜头配置参数:
产品型号		MC2-701-N1	MC2-702-N1	MC2-703-N1	MC2-704-N1	MC2-705-N1	MC2-706-N1	MC2-707-N1	MC2-708-N1
示例	unit	NanoView 2K	NanoView 4K	MicroView 2K	MicroView 4K	DeepView 2K	DeepView 4K	WireView 2K	WireView 4K
线长	mm	1.35		1.8		4		1.5
景深	µm	100		500		2600		900
工作距离	mm	4.6		10		47.8		7.8
放大率		17.3		12.5		5.6		15.6
数值孔径		0.7		0.5		0.35		0.75
大样本斜率	°	40		30		20		46
样本像素大小	µm	0.82	0.41	1.12	0.56	2.5	1.23	0.9	0.45
光学头: 长度	mm	413.8	393.3	402.6	382.1	422.9	403.9	457.7	437.2
光学头: 直径	mm	50		50		75		70
光学头: 重量	g	-	-	-	-	-	-