TFMS-LD反射光谱薄膜测厚仪

TFMS-LD反射光谱薄膜测厚仪是一款利用反射光谱测试薄膜厚度的仪器，可快速精确地测量透明或半透明薄膜的厚度而不损伤样品表面的薄膜，是一款无损测厚仪，其测量膜厚范围为15nm-50um，测量膜厚范围广，尤其适用于超薄薄膜厚度的测量。仪器所发出测试光的波长范围为400nm-1100nm，波长范围广，因此，测试薄膜厚度的范围广。反射光谱薄膜测厚仪测试系统的理论基础为镜面光纤反射探头，该仪器尺寸小巧可节省实验室空间，操作方便，读数直观，方便于在实验室中摆放和使用。

特点

测量和数据分析同时进行，可测量单层膜，多层膜，无基底和非均匀膜

包含了500多种材料的光学常数，新材料参数也可很容易地添加，支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等

体积较小，方便摆放和操作

可测量薄膜厚度，材料光学常数和表面粗糙度

使用电脑操作，界面中点击，即可进行测量和分析

沈阳科晶自动化设备有限公司是由毕业于美国麻省理工学院的江晓平博士于2000年5月创建。与合肥科晶材料技术有限公司、深圳市科晶智达科技有限公司同属于科晶联盟。自*SYJ-150低速金刚石切割机诞生以来，沈阳科晶便开始了以赶超国外同行、材料分析设备潮流为目标的发展历程。时至今日，已经拥有涵盖材料切割、研磨、抛光、涂膜、镀膜、混合、压轧、烧结、分析等领域以及相关耗材的上百种产品，可以满足晶体、陶瓷、玻璃、岩相、矿样、金属材料、耐火材料、复合材料、生物材料等制备分析的全套需要。