日本电测densoku电阻式膜厚计RST-231 测厚仪

日本电测densoku电阻式膜厚计RST-231

易于操作且时间短（0.7秒）
绝缘体上金属膜的高度精确测量

・在0.7秒内测量绝缘层上的金属膜
・使用个人计算机
易于查看的屏幕・易于校准和测量
・可立即查看直方图，轮廓等
・异常值检测功能

电阻式膜厚计RST-231的特点

在0.7秒内测量绝缘子上的金属膜

它可以在短时间内（0.7秒）高精度测量绝缘体上的金属膜（铜箔，印刷基板的镀层等）。

易于阅读的屏幕配置

屏幕大而明亮，使用个人计算机时易于查看。

易于校准和测量

易于校准和测量。可以选择两个测量范围（2至24μm，10至120μm）。

可以立即看到各种数字

经过统计处理后，您始终可以立即看到直方图，配置文件和xR管理图。

离群值检测功能

如果设置薄膜厚度的上限和下限，则会通知您异常值。

支持更换每个探针

如果探头的探头损坏，可以为每个探头更换它，并以低成本维修。

易于统计处理

可以保存每个通道的测量数据，以后可以为测量数据设置统计项目以进行统计处理。

z多可以注册40个频道

由于z多可以注册40个通道，因此可以根据用户名和部件号​​分别注册来管理通道。

支持更换每个探针

使用4探针（开尔文型），即使在双面板和多层板上也可以不受背面或内层的影响进行高精度测量。

日本电测densoku电阻式膜厚计RST-231

电阻式膜厚计RST-231的规格・ 4探针探针规格