CMS - 台式电解测厚仪

台式仪器，北京时代 涂层测厚仪，使用库伦法测量几乎所有金属镀层厚度，涡流涂层测厚仪，无论基材是金属或非金属，涂层测厚仪 北京时代，无论镀层结构是单镀层还是多镀层。

特点

• 库仑析法电解镀层，成都涂层测厚仪，符合 DIN EN ISO 2177标准
• V18测量台通过控制气泵具有自动充填和清空测量槽中电解液功能
• 大幅液晶显示屏便于操作和显示测量结果

典型应用领域

• 该仪器几乎可以测量金属或非金属基材上的任何一种金属镀层。 甚至可以测量多层镀层.
• 测量几乎所有金属镀层厚度，电磁涂层测厚仪，无论基材是金属或非金属，涂层测厚仪图片，镀层也可以是多镀层。典型的可测量厚度范围 0.05 – 40 μm。 也适用于线材上镀层的测量