X射线衍射法应力分析仪 便携式x光检测仪

X射线衍射法应力分析仪准直器直径从Φ1到Φ5，包括特殊小直径Φ0.5和Φ0.8甚至更小；测距，行程误差小于0.003mm；对无应力铁粉测量误差可控制到±6.9MPa以内；满足或超过 ANSI N43.3-1993和其它工业标准。

X射线衍射法应力分析仪仪器原理：

G3根据的是布拉格原理，使用X射线来测量残余应力和残余奥氏体。这是一种传统的方法，是测量铁素体钢的X射线衍射法，也适用于所有晶体材料(包括陶瓷)。

此设计主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。Xstress3000G3，既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。

技术特点：

1.检测质量远远高于国产仪器；

2.检测量程宽；

3.操作简单，易于校准和维护；

4.方便快捷，两分钟之内完成整个操作过程；

5.采用超密封稳定结构，外壳防护等级达到GB4208-1993规定的IP54要求，确保了在恶劣环境下测量准确性。

技术指标：

电缆线：标准配置为5米

电源：100-240 VAC，50/60Hz，600V

尺寸：主控单元 X3003：552x413x254mm

测角仪 G3：555x492x574mm

测角仪 G3R：966x573x605mm