CST-50冲击试样缺口夏比投影仪

　用途与特点　
CST-50冲击试样缺口夏比投影仪是专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。
本冲击试样缺口投影仪是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，操作简便，检查对比直观、效率高，是目前 切实可行、并能保证检查质量的方法，是相关理化试验室的仪器。

　主要技术参数　
1. 放大倍数：50×；
2. 投影屏尺寸：ф200mm;
3. 工作台位移：纵向±10mm，横向±10mm，升降±12mm(无刻度)；
4. 工作台转动范围：0～360о（无刻度）；
5. 光源：卤钨灯12V 100W;
6. 电源：200V 50HZ 150W;
7. 外形尺寸：515×224×603mm;
8. 重量： 约18kg。