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当前产品CIT-2000SM X射线荧光分析仪 X射线仪器
联系方式:赵先生15382288818
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产品详情
参数
技术指标
分析元素
Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Mo、Ni等
元素含量分析范围
2-20Ke
分辨率
13%
样品用量
10克
样品粒度
120目以上
稳定性
0.002
检测时间
2分钟
分析误差
﹤1.0%
整机功耗
150W
工作环境温度
温度0-40℃
样品温度
<70℃
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