两箱高低温冲击试验箱，高 低温提篮冲击箱

1.1 产品名称

两箱冲击试验箱

1.2 产品型号

JS-CJ-65/90

1.3数量

1台

2.1  概述

本产品是模拟GB/T10589-2008低温试验箱等技术条件；GB/T11158-2008高温试验箱技术条件制造，主要为航天、航空、石油、化工、军事、汽车（摩托车）、船舶、电子、通讯等科研及生产单位提供温湿度变化环境，模拟试品在温度变化环境条件对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等。

2.2主要组成

箱体、制冷系统、加热系统、电气控制系统、防凝露装置等，以及在本技术规格中未提及的、但为确保该系统正常、稳定、长期、安全、可靠运行所必须的其它配套设施。

两箱高低温冲击试验箱，高 低温提篮冲击箱技术参数

3.1 提篮尺寸

450×450×450mm (深×宽×高)，多尺寸可选

3.2 工作室尺寸

600×600×600mm   (深×宽×高) 

3.3温度参数

预热

室

温度范围

40℃～+180℃

温度波动度

≤±2℃

温度上升时间

50 ℃～180 ℃ ≤ 30 min

预冷

室

温度范围

-65 ℃ ～ +30 ℃

温度波动度

≤±0.5℃

蓄冷材料

铝块

温度下降时间

30℃～-80℃ ≤60min

工作参数

温度冲击范围

-45℃～＋150℃

温度波动度

≤±0.5℃

温度均匀度

≤2℃（空载、恒定状态下）

温度偏差度

±2.0℃（空载、恒定状态时）

转换时间

≤10S

温度恢复时间

≤5 min

温度冲击方式

通过试验样品在测试室移动，上下移动拉动样品在高温室和低温室之间进行温度冲击。

3.4冲击方式

两箱式温度循环冲击，试样物品在移动提篮中，循环过程自动控制，停留及转换时间可调

3.5满足标准

GB/T 2423.22 -2012Na 电工电子产品环境试验；

GB 10592-2008高、低温试验箱技术条件；

GB/T 2423.1-2008电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验方法；

GB/T 2423.2-2008电工电子产品基本环境试验规程 试验B：高温试验方法；

以上标准和规范如果被新标准和规范替代，执行新的标准和规范，双方另有约定的按照约定执行。

3.6总功率

约18.0kW。

3.7电压

AC 380V±10%； 50 Hz；三相五线。

3.8冷却方式

风冷