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紫外可见区 紫外可见区沿用了经典型号UH4150,测光范围为8Abs。 另外,UH4150AD+采用了灵敏度更高的光电倍增管,可以依据样品的光学特性灵活选择检测器的切换波长。 凭借紫外可见近红外区宽的测光范围,非常适合评价近红外型光学元件,如自动驾驶等的传感设备LiDAR等光学元件及智能手机摄像头的滤光片、人脸识别滤光片等。 沿用备受好评的经典型号UH4150的光学系统 在测定固体样品的正反射时,入射角很重要。对于聚集光束,入射角会随焦距的变化而变化,从而造成导电多层膜和棱镜等光学薄膜预测值和实际值产生差异。 对于平行光束,所有样品的入射角都是近似于平行的,因此可以高精度测定正反射。另外,平行光束对于扩散性评价(雾度)、镜头透过率测定也是有效的。
本次开发的UH4150AD+(Advanced Spec Plus)是在延续了作为光学元件的光谱特性检测设备UH4150 系列的基础上,提升了其在近红外区域光谱特性测量性能,成为在先端行业很流行的测量光学元件的理想设备。
具有紫外可见区8Abs、近红外区7Abs的测光范围
l 紫外可见区
紫外可见区UH4150AD+采用了灵敏度更高的光电倍增管,测光范围为8Abs。并且可以依据样品的光学特性灵活选择检测器的切换波长。
l 近红外区
在近红外区域安装了高灵敏度的 InGaAs 探测器。 直射光探测器通过安装集成放大器的探测器实现低噪声,并支持近红外区域7Abs的测光范围。
沿用备受好评的UH4150光学系统
在测定固体样品的正反射时,入射角很重要。对于聚集光束,入射角会随焦距的变化而变化,从而造成导电多层膜和棱镜等光学薄膜预测值和实际值产生差异。
对于平行光束,所有样品的入射角都是近似于平行的,因此可以高精度测定正反射。另外,平行光束也可用于扩散性评价(雾度)、镜头透过率测定。
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