半导体测试高低温冲击试验箱

  半导体测试高低温冲击试验箱又名冷热冲击机、高低温冲击试验机、冷热冲击试验机等。用于电子电器零组件、自动化零部件、汽车配件、金属、塑胶等行业。测试其材料对高低温反复抵拉力以及产品对其产品及材料进行高温与低温之间的瞬间变化环境下检验其各项性能指标。应用于消费性电子工业，光电产业，生物科技，学术研究单位，半导体工业，通讯工业，汽车工业，资讯工业。

一、性能特点：

三箱设备区分为：高温区、低温区、测试区三部分，测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。

1、采用触控式图控操作介面，操作筒易；

2、冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试；

3、高温冲击或低温冲击时，zui大时间可达999H，zui大循环周期可达9999次；

4、系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始；

5、冷却采二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为水冷式；

6、可以试验冲击常温执行满足标准及试验方法: GJB150.5 温度冲击试验;GJB360.7温度冲击试验;GB/2423.22 温度冲击试验。

二、系统控制：

　1、制冷系统：全封闭压缩机所组成的二元复叠式风冷制冷系统，风冷式盘管冷凝器、鳍片式多段式蒸发器，主要制冷配件及控制器件均采用原件；

　2、电器控制系统：电气控制部分采用“施耐德”交流接触器，热继电器，质量可靠；

　3、安全保护系统：超温报警，线路保险丝及全护套式端子，欠相缺相保护，快速熔断器，压缩机高低压、过热、过电流保护、缺气保护，过电流保护，接地保护。

三、安全功能

　1、温度偏高、偏低和超温报警；

　2、 压缩机过热、过流、过载保护，风机过热保护等；

　3、独立限温报警系统，超过限制温度即自动中断运行，并声光报警提示操作者。保证实验安全运行不发生意外。

四、满足标准：

　1、GJB150.5A温度冲击试验；

　2、GB/2423.13-2002温度冲击试验；

　3、GJB360B 温度冲击试验；

　4、GBT10589-2008低温试验箱技术条优缺点。

五、 半导体测试冲击试验箱技术参数：