当前产品SPM-8000FM 高分辨率扫描型探针显微镜

SPM-8000FM 高分辨率扫描型探针显微镜

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  • 公司名称岛津企业管理(中国)有限公司
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  • 所  在  地北京市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2024/10/21 17:39:31
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SPM-8000FM高分辨率扫描型探针显微镜

HR-SPM
观察生动的纳米世界

HR-SPM是采用频率检测方式(Frequency Modulation)的新一代扫描探针显微镜。不仅可在大气·液体环境中实现超高分辨率的观察,还*实现了固液界面的水化作用层(hydration)·溶剂化作用层(solvation)的观察。
HR-SPM:High Resolution Scanning Probe Microscope

SPM-8000FM高分辨率扫描型探针显微镜HR-SPM的特点

采用FM(频率调制)方式
大气·液体环境中的噪声减少到以往的1/20
在大气·液体环境中实现真空型SPM的性能水平!

以往的SPM(扫描型探针显微镜)/AFM(原子力显微镜)是AM(振幅调制)方式,而FM(频率调制)方式从原理上就因为高灵敏度检测从而可实现更高的分辨率。

SPM:Scanning Probe Microseope
AFM:Atomic Force Microscope
AM:Amplitude Modulation
FM:Frequency Modulation

和以往SPM/AFM相比的不同

液体中原子分辨率观察

图为在饱和溶液中观察NaCl表面的原子排列。以往AFM(AM方式:左)湮没在噪声中的原子通过FM方式(右)则可以清晰地观察到。
FM方式可以得到真正的原子分辨率(True Atomic Resolution)。

大气中Pt催化粒子的KPFM观察

TiO2基板上的Pt催化粒子被识别了出来,并通过KPFM进行表面电势的测定。可以观察到数nm大小的Pt粒子和基板间的电荷交换。右图中,红色区域是正电势,蓝色区域是负电势。可见对于KPFM观察,分辨率也得到了大幅的提高。

*KPFM(Keivin Probe Force Microscope)功能为特殊定制。

<引用文献>

1)Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2 Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2 Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012).



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