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产品详情
三箱式冷热冲击试验箱用于电子电器零组件塑胶等行业、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理性变化进行试验,用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理变化。
技术参数:
内箱尺寸:36×35×40;45×40×40;50×45×45;60×50×50;70×60×60;80×75×60;80×80×75
标准尺寸:
GBT 2423.1-2008电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温
GBT 2423.2-2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
高温室存温范围:+60℃ ~ 200℃
低温室存温范围:0℃ ~ -170℃
测试室温度冲击范围:-65 ~ 150 ℃(可缩小至-55 ~ 150 ℃或-40 ~ 150 ℃)
温度恢复时间:≤5分钟
温度波动度:±0.5℃
温度偏差:±2℃
高温室升温时间:30min (20~200℃)
低温室温时间:30min (20~-75℃)
加热系统:全独立系统,镍铬合金电加热式加热器
制冷系统:全封闭风冷复迭压缩制冷方式
循环系统:耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮
安全保护:漏电、短路、超温、电机过热、压缩机超压、超载、过电流保护。
三箱式冷热冲击试验箱操作步骤:
1.打开试验箱的门,将样品放置在工作室内。
2.根据试验要求,设置高温和低温的试验温度和时间。
3.关闭试验箱的门,确保门密封良好。
4.启动试验箱的加热和制冷系统,使工作室的温度达到设定值。
5.在设定的时间到达后,停止加热和制冷系统的工作。
6.打开试验箱的门,取出样品。
7.对样品进行观察和评估,判断其是否满足测试要求。
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