硬盘芯片测试两箱式冷热冲击试验箱

硬盘芯片测试两箱式冷热冲击试验箱

1.造型设计：圆弧造型及表面喷塑处理，高质感外观，更显洁净美观。
2.箱体内胆采用(SUS304)不锈钢板。
3.箱体外壳采用A3钢板数控机床加工成型，造型美观大方。
4.观察窗：高温箱安装矩形多层中空隔热玻璃热玻璃观察窗一个(300×200mm ).观察窗上安装照明灯。
5.本冷热冲击试验箱分为高温区、低温区、测试区三部分，具之断热结构及蓄热蓄冷效果。
6.可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件的功能，并于执行冷热冲击条件时，可选择二槽或三槽之功能，具有高低温试验箱的功能。
7.试验时待测物静止，应用冷风路切换方式导入试品中，做冷热冲击测试试验。
8.保温材料采用防火和隔热高密度纤维棉。
9.测试区内附上下可调不锈钢盘两组，便于吊蓝上下转换的隔温性。
10.样品架承重量为：(162型、300型20kg)(500型30kg)(010型50kg)。
11.箱体左侧配Φ50mm测试孔一个，可供外接测试电源线或信号线使用。
12.冷热冲击试验箱箱体底部加装高质量承载PU活动轮，便于客户移动设备。

硬盘芯片测试两箱式冷热冲击试验箱

技术参数：

1.温度范围：-20℃～150℃
2.湿度范围：20%～98%R.H
3.温度均匀度：≤±2℃（空载时）
4.湿度均匀度：+2%-3%R.H
5.温度波动度：≤±0.5℃（空载时）
6.湿度波动度：±2%
7.温度偏差：≤±2℃
8.湿度偏差：≤±2%
9.降温速率：0.7～1.0℃/min
10.升温速率：1.0～3.0℃/min
11.时间设定范围：0～999小时
12.电源电压：380V±10%
13.设备总功率：3KW～15KW

制冷优点:

10、传统设备低温控制方式：

制冷压缩机启停控制温度（温度波动大、严重影响压缩机寿命，已淘汰的技术）

制冷压缩机恒定运行+加热PID 控制（导致制冷量与加热相抵消实现温度动态平衡，浪费了大量的电能）

11、PWM 冷控制技术实现低温节能运行：低温工作状态，加热器不参与工作，通过PWM 技术控制调节制冷机组制

冷剂流量和流向，对制冷管道、冷旁通管道、热旁通管道三向流量调节，实现对工作室温度的自动恒定。此方式在低温工况下，可实现降低40%的能耗。