MM66-WLP205平均粒度测定仪

MM66-WLP205平均粒度测定仪概述

MM66-WLP205平均粒度测定仪是我公司采用*的技术手段，由公司的科研人员经过多年的研究研制成功的，该仪器采用空气透过原理研制的，是用来快速测定粉末颗粒平均粒径的仪器，通称弗氏仪（Fass）又称弗氏超细筛。是磁性材料、粉末冶金、难熔金属、特种陶瓷、钨钼材料、硬质合金、有色金属、非金属、化工、建材、国防功能材料及粉末研究和生产*的检测手段。

特点如下：
整机采用流线型设计，美观大方，具有性能稳定，操作简便，重复性好的特点，选用耐磨金属研制的弗氏泵，工作无噪音，仪器压力进一步稳定，延长了仪器的寿命。
还可以测量比表面积.
扩展了孔隙范围，由原来的0.40—0.80双向扩展到0.25—0.40，0.40—0.80，0.80—0.95；满足了各类粉末行业检测需求

感谢您使用平均粒度测定仪，由于我们的技术水平及生产水平有限，在研制和生产的过程中，难免会出现意想不到的问题。欢迎您提出宝贵的意见，您的意见就是我们前进的zui大动力。欢迎您咨询指正。