T1000wave粗糙度轮廓仪

 霍梅尔T1000wave粗糙度轮廓仪

霍梅尔T1000wave粗糙度轮廓仪测量粗糙度、波纹度和轮廓，操作简单灵活
T1000移动式组合测量仪测量范围广，操作灵活。无论是在车间使用，还是在生产线上使用，都能满足用户的zui高测量要求。 
T1000 basic 基础型粗糙度轮廓仪配置了滑轨式探测系统，可用于各种不同的粗糙度标准测量，特别适用于两个凸台之间的横向测量。T1000 wave型升级版粗糙度轮廓仪则在此基础之上还能通过基准面探测系统测量初级形状和波纹度。
此类测量仪的大规格显示屏能使特征数据和形状一目了然。用户如有需要可选择内置打印仪记录测量数据。在固定操作的状态下，能通过TURBO DATAWIN视窗软件完成要求*的数据分析。
T1000wave型升级版测量仪架起了移动测量和传统的固定测量之间的互通桥梁：将粗糙度、波纹度和轮廓的移动测量和的高精、高准的测量性能*结合。在固定操作的状态下，能通过TURBO DATAWIN视窗软件完成zui高要求的数据分析。
如有需求，用户可随时毫不费力地将T 1000 basic基础型测量仪拓展成wave 型升级版测量仪。
供货范围
HOMMEL-ETAMIC T1000wave型升级版粗糙度仪商品号:240 865
供货范围和功能特征：
- Hommel Tester T1000 wave型分析仪
- 可根据DIN/ISO/JIS/Motif/标准分析56项以上的粗糙度特征数据
- 集成在内的统计功能
- 可设定所有特征数据的上下公差，并三色显示公差带
- 可打印特征数据R、P、W形状和材料含量曲线 图
- 通过大的图像显示屏进行菜单操作和显示测量结果
- 可保存200个轮廓 / 999个测量数据
- 厂家校准，不需自行校准
- 带基准面的wavelineTM 20进给装置
- 探头机动定位，到达零刻度时自动停止
- 探测距离20 mm
- 内部校正范围+/-2°
- 集成在内的起动按钮
- TKL 300基准面探头
- 粗糙度仪箱式包装，配送充电器