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高分辨率探测器:美国原装电制冷Si-PIN探测器,配套原装数字式多道脉冲幅度分析器,检测结果和分析速度远比国内采用线性放电法(模拟)多道分析器精准和快速。 精密稳定的高压电源:采用工业级X射线荧光分析的精密高压电源,为X射线光管提供长时间的稳定高压。
低功率X射线光管:采用W/Rh靶X射线管,*高速风扇制冷,设计寿命5万小时。
高像素摄像头:内置高清摄像头以及微动样品移动装置,方便对样品扫描区域的实时准确定位和观察。
*的X射线防护体系:采用电源开关锁、精密样品盖开合检测等安全装置*防止X射线的泄漏,确保操作人员的安全。
采用新型滤光片:有效的降低X射线荧光本底,提高检测灵敏度。*光学准直器,光束zui小直径达
*的光谱分析方法:紧跟zui前沿的X射线光谱分析方法,科学的对光谱进行元素定性、定量分析。由于采用了*复杂的计算、校正算法,zui大程度上减少了定量分析需要的标样,这在同行中处于地位。通过改进硬件,Pb、Cd等的检测灵敏度提高2倍。
无标样分析:真正意义上实现无任何标样的含量、镀层分析。对于含量分析,高含量元素相对误差范围可控制在1%以内;对于镀层分析,厚度相对误差范围可控制在10%以内。
技术指标:
1.外壳尺寸:
2.测量窗尺寸:
3.重量: 约
4. 适宜温度: 5
5. 相对湿度: ≤80%
6. 元素分析范围: 钾(K)到铀(U)
7. 含量分析范围: 为2 PPm到99.99%
8. 测量时间: 60-300秒(任意调整)
9. 分辨率: 186eV FWHM@5.9KeV
10. 电源: 交流220V±5V或110V±5V
11. 电源频率: 47-63 Hz
12. 高压输入: +24V dc+-10%,
13. 高压输出: 0-50KV@1mA zui大功率50W
14.CCD光学镜头
15.有分析、显示、打印等功能
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