低频绝缘材料介电常数及介质损耗测试仪报价

低频绝缘材料介电常数及介质损耗测试仪报价低频绝缘材料介电常数及介质损耗测试仪报价频率范围20HZ-1MHZ,含测试夹具一个 型号:M370105库号：M370105 

一 概述M370105是具有多|种功能和＞测试频率的阻抗分析仪.本系列仪器基本精度为0.05%, 测试频率1MHz及10mHz的分辨率, 4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面.集成了变压器测试功能,平衡测试功能. 仪器提供了接口,能满足自|动分选测试, 数据传输和保|存的各种要求.

二 性能特点

◎ 全自|动一键操作可自动扫描平稳的量程阶段

◎ 微电脑处理器反应迅速可在短时间内计算出频段

◎ 夹具数字显示

◎ 4.3寸TFT液晶显示

◎ 中英文可选操作界面

◎ 测试频率≤1MHz， 10mHz分辨率

◎ 平衡测试功能

◎ 变压器参数测试功能

◎ 测试速度:≤13ms/次

◎ 电压或电流的自|动电平调整（ALC） 功能

◎ V、 I 测试信号电平监|视功能

◎ 内部自|带直流偏置源

◎ 可外接大电流直流偏置源

◎ 10点列表扫描测试功能

◎ 30Ω 、 50Ω 、 100Ω 可选内阻◎ 内建比较器， 10档分选和计|数功能

◎ 内部文件存储和外部U盘文件保|存

◎ 测量数据可直接保|存到U盘

◎ RS232C、 USB 、 LAN、 HANDLER、 GPIB、 DCI 接口

◎ 高频阻抗分析仪电容值 Cp 分辨率 0.00001pF 和 6 位 D 值显示， 保|证了ε 和 D值精度和重复性

◎ 介电常数测量范围可达 1～105

三 主要技术指标：

1 M370105主机参数

ε 和D性能：

固体绝缘材料测试频率20Hz～1MHz的ε 和D变化的测试。

ε 和D测量范围： ε ： 1～105， D： 0.1～0.00005，

ε 和D测量精度（10kHz） ： ε ： ±2% ， D： ±5%±0.0001。

测试参数 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ ,DCR

测试频率 :20Hz～1MHz,10mHz步进

测试信号电平:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV），f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

输出阻抗:10Ω , 30Ω , 50Ω , 100Ω

基本准确度 ;0.1%

显围 :

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99° ～ 179.99°

测量速度 ;快速: 200次/s（f﹥ 30kHz） ,100次/s（f﹥ 1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校准功能 :开路 / 短路点频、 扫频清零， 负载校准

等|效方式 :串联方式, 并联方式

量程方式:自|动, 保持

显示方式 :直读, Δ , Δ %

触发方式 :内部, 手动, 外部, 总线

内部直流偏 :电压模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进

置源 :电流模式（内阻为50Ω ） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进

比较器功能:10档分选及计|数功能

显示器;4.3寸LCD显示

存储器 :可保存20组仪器设定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（选件）

工作频率范围： 20Hz～1MHz 数字合成，

精度： ±0.02%

电容测量范围： 0.00001pF～9.99999F 六位数显

电容测量基本误差是： ±0.05%

损耗因素D值范围： 0.00001～9.99999 六位数显

介电常数测试装置（含保|护电极） ： 介电常数测试装置提供测试电极， 能

对直径φ 6～50mm， 厚度<14mm的试样测量。

它针对不同试样可设置为接触电极法， 薄膜电极法和非接触法三种， 以适应软材

料， 表面不平整和薄膜试样测试。

微分头分辨率： 10μ m

耐压： ±42Vp（AC+DC）

电缆长度设置： 1m

使用频率：≤ 1MHz

2 S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：

固体：材料测量直径Φ38mm；厚度可调 ≥ 15mm

液体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）

四 M370105/ZX283806低频介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料

绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等

高频介质样品（选购件）： 在现行高频介质材料检定系统中， 检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。 该样品由石英玻璃， 聚四氟乙烯等材料做成Φ 38mm， 厚 1～2mm 测试样品。 用户可按需订购， 以保证测试装置的重复性和准确性