正电子寿命谱仪 (PSA)的原理分析
正电子寿命谱仪 (PSA)的原理分析
产品概要
这是一种可以使用正电子评估亚纳米尺寸(原子级)的微小缺陷和空隙的方法。
正电子寿命测量是一种能够使用正电子评估亚纳米尺寸(原子级)微缺陷和空隙的技术。
本装置应用实例
喷丸质量检查
金属疲劳损伤评估
适用于
钢、铝、钛等各种金属
非晶态材料,例如玻璃和聚合物
测量深度距表面约50μm(钢材)
*与产业技术综合研究所共同开发
正电子寿命法原理
图1是正电子进入金属材料并湮灭的示意图。
正电子寿命测定法是准确测定正电子产生时放出的γ射线与电子对湮灭时产生的γ射线的时间差(正电子寿命)的技术。材料中空位越多,位错密度越高,正电子寿命越长。■所谓阳电子
带正电荷的电子“反粒子”。与电子相遇就会对消失γ放出线。
■所谓正电子寿命
是指正电子与电子相遇并消失之前的时间(寿命)。正电子寿命取决于电子密度,空隙尺寸越大,电子密度越低,所以正电子寿命会更长。
常用规格
正电子源 | Na-22 (~1MBq) |
计数率 | 约 100 厘泊 |
测量范围 | 40 ns(对于金属、半导体和聚合物) |
附属设备 | ・HDO4024(Teledyne LeCroy DSO)、 (HDO4024 尺寸 W400 × L132 × H292 [mm]) ・特殊程序 ・笔记本电脑等。 |
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