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卤素强光灯在半导体硅晶片检测上的运用

2022年12月13日 10:14:04 人气: 967 来源: 秋山科技(东莞)有限公司

卤素强光灯在半导体硅晶片检测上的运用

晶圆片表面检测灯半导体表面瑕疵检查灯 表面检查灯厂家 黄绿光/白光检查灯
晶圆颗粒缺陷检查灯YP-150I/YP-250I是一款黄绿光表面检查灯(或者是白光),又叫半导体目检灯,检测灯的原理利用适合的LED灯源,通过光学镜片折射出特殊波长的光源,照在工件表面折射出光路,使得操作员肉眼可识别出工件表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵点,取代传统的照明设备和光学系统机台,直接通过照明光线和肉眼,观测出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵,极大的节省了一般工厂的采购成本。

半导体晶圆片缺陷检测灯应用

LCD滤光片、偏光板。
晶圆、半导体。
玻璃或是金属表面。
上列物品的刮痕及灰尘检查。

晶圆片表面检测灯检察对象

硅和玻璃晶圆、液晶滤色器、玻璃镜头、光罩、电影、陶瓷、圆盘、金属表面(铝,不锈钢,铜等)、阴极射线管、触摸屏、太阳能电池、汽车、家电、建筑内部材料、光面纸、热转印膜、版、电子元器件等。

表面瑕疵检查灯利用适合的LED灯源,通过光学透镜和滤光片折射出特殊的光源,照在工件表面折射出光路,使得操作员肉眼可识别出工件表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵。表面瑕疵检查灯用于液晶玻璃、汽车玻璃、手机屏幕、基材、半导体硅晶圆片(晶圆/晶片)、柔性基板表面瑕疵检查




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