半导体激光器和VCSEL等激光设备的发射特性检测技术

半导体激光器和VCSEL等激光设备的发射特性检测技术

用于高性能光学测量的光学系统（用于光照射和光接收测量的光学系统） M-Scope Type I 是一种高性能光学系统，设计用于多用途光学应用测量，例如光照射、光接收测量和光束轮廓测量。 配备用于光学测量的光纤连接端口和用于图像处理分析的图像检测器连接端口，可以使用同一光学系统实现多个光学测量。 此外，可以根据目的添加各种光学测量组件，并且可以根据使用目的轻松构建光学测量单元，例如测量目的，测量项目和测量触觉。 光学系统可以根据测量目标和测量波长选择和安装最合适的透镜或反射镜。 这使得在最佳光学条件下进行各种测量成为可能。

它可以应用于广泛的领域和应用，从光电探测器和传感器的入射光测量，发光元件的光接收测量，光束轮廓测量等，到生物细胞的微光束照射。

用于高性能光学测量的光学系统包括标准 M 型 I 型和偏振依赖性对策 M 型 I/PF 型。