膜厚计L-500：内置打印机、块/组统计计算功能和新开发的探头

我们自豪地介绍膜厚计L-500，这是一款顶级型号的膜厚测量仪器，具备一系列令人印象深刻的功能。它内置了一个方便的打印机，可以直接打印出测量结果，方便用户进行记录和分析。此外，膜厚计L-500还拥有块/组统计计算功能，使您能够轻松计算测量次数、平均值、标准差、最大值、最小值等统计数据，提高工作效率。我们特别为这款膜厚计开发了一系列全新的探头（单独出售），以满足不同应用需要。

膜厚计L-500可通过电磁感应或涡流的测量方法，准确测量磁性金属上的非磁性涂层或非磁性金属上的绝缘涂层厚度。根据选择的探头不同，测量范围可达到0至2,500μm（电磁型）或0至1,200μm（涡流型）。测量精度取决于探头类型，对于电磁型，小于15μm时精度为±0.3μm，15μm以上至1,000μm为±2%，1,000μm以上为±3%；对于涡流型，50μm以下为±1.0μm，50μm以上为±2%。此外，膜厚计L-500的解决力达到了0.1μm（100μm以下）或1μm（100μm以上），确保在测量过程中获得精准的结果。

膜厚计L-500符合多种兼容标准，包括电磁感应型和涡流型的标准，例如JIS、ISO和ASTM等，使其能够广泛应用于不同领域的涂层测量。这款膜厚计采用数字式LCD显示屏，最小显示位数为0.1μm，清晰直观，方便读取测量结果。通过USB串口，您可以将数据传输到其他设备进行进一步的处理和分析。

膜厚计L-500的尺寸为126（宽）x 256（深）x 93（高）毫米，重量仅为750克，便于携带和使用。配件方面，我们为您提供铁底座（适用于电磁型探头）、铝底座（适用于涡流型探头）、标准板（各种厚度）、电池、AC适配器、电源线、探头适配器、背带、打印纸、表面保护片、标准板盒、便携包、简易调节指南和使用说明书。

此外，我们还为膜厚计L-500提供了一些选项，以满足个性化需求。您可以选择与配套厚度不同的标准板，获得更灵活的测量能力。我们还提供膜厚计测量架LW-990，帮助您更好地操作膜厚计。此外，我们还提供校准服务，确保测量结果的准确性和可靠性。

膜厚计L-500是一款高性能、灵活可靠的膜厚测量仪器，非常适用于涂层行业和相关领域的应用。它的内置打印机、块/组统计计算功能和新开发的探头使其在同类产品中脱颖而出。无论是在质量控制、工艺优化还是研发实验中，膜厚计L-500都能满足您的需求，为您带来更高效、准确和可靠的测量体验。