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微小区域、曲面和超薄样品反射率测量装置MSP-100

2024年06月20日 14:35:37 人气: 375 来源: 秋山科技(东莞)有限公司

微小区域、曲面和超薄样品反射率测量装置MSP-100

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通过使用特殊的半反射镜,可以减少背面反射光,无需背面处理即可在短时间内进行精确测量。(可测量 0.2 mm 薄板的反射率:使用 ×20 物镜时)

还可以测量镜片曲面和涂层不均匀度。(在样品表面连接微小点(φ50μm))

即使是低反射率的样品也可以在短时间内进行测量,并且具有高重复性。(光学设计捕获最大量的光,512元件线性PDA,内置16位A/D转换器,USB 2.0接口高速计算实现快速测量。)

可以进行色度测量和L*a*b*测量。可以使用光谱比色法根据光谱反射率来测量物体。

数据可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。

单层薄膜可以非接触式、非破坏性地测量。

具有在同一屏幕上显示多个测量结果的功能。轻松比较测量结果。

规格

型号

MSP-100

测量波长

380~1050nm

测量重复性

±0.2%(380-450nm)
±0.02%(451-950nm)
±0.2%(951-1050nm)

样品面 NA

NA 0.12(使用 10 倍物镜时)

样品测量范围

φ50μm(使用10倍物镜时)

样品曲率半径

-1R~-无穷大, +1R~无穷大

显示分辨率

1纳米

测量时间

几秒到十几秒(取决于采样时间)

外形尺寸

(宽)230×(高)560×(深)460mm(仅机身)

工作温度限制

18~28℃

工作湿度

60%以下(无凝露)

测量结果图像
测量结果图1测量结果图2测量结果图3

 

 

 

 

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