使用图像分析设备Mac-View Version.5进行粉末测量的好处

结合各种识别工具，测量分析各类颗粒物

通过读取SEM、TEM等拍摄的图像并识别目标颗粒，自动计算粒径分布并将颗粒形状数字化。
通过使用手写板的手动分析工具，可以轻松识别形状复杂的颗粒和团聚颗粒。

Mac-View Version.5 中的新功能和改进

・在粒子获取模式中添加了“针状”

Mac-View Version.5 的特点

■凝集粒子的一次粒径分析

现在可以评估聚集颗粒的初级粒径，这在以前是很困难的。

■纳米粒子的评价

只要尺度信息可用，无论颗粒大小如何，都可以进行分析。

■多边分析评估

可以自动测量粒度分布并分析颗粒形状（圆形度、长径比等）。此外，可以获得丰富的数据，从而可以评估聚集颗粒的初级颗粒。

■操作方便

它不需要任何特殊知识，并且易于操作，因此不需要操作人员任何技能水平。

■无需昂贵的资金投入

只要您准备好图像（jpeg、位图），在 PC 上安装软件后即可立即使用。

应用实例

纳米粒子、凝聚粒子、颗粒、烧结体截面、乳液粒径等

支持软件

■综合粉末分析软件Mac-PIAS

Mac-PIAS是综合性粉末分析软件的新维度，可以集中管理和分析使用各种方法测量的“粒度分布数据”。

■筛分试验数据分析软件Macmesh

Macmesh 是一种工具，可以消除数据密集型筛分测试中的人为错误，并提高测试效率。