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IC卡动态弯曲双向扭试验机的产品用途
IC卡动态弯曲双向扭试验机用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡等卡的弯曲和扭曲性能测试。模拟IC卡(如银行卡、交通卡)在反复弯折场景下的耐久性,检测芯片、卡基材料及焊点的疲劳寿命。

IC卡动态弯曲双向扭试验机技术参数:
测试速度:弯曲 扭曲30r/min及0.5Hz
测试周期:1~9999次
扭曲度 :±15°±1° 双向d=86 mm
正反向各15°,总扭曲角度30°
长边最大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)
长边最小位移量为2mm±0.50mm,
短边最大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)
长边最小位移量为1mm±0.50mm,
夹具安装尺寸按照国家标准执行。
长边弯曲工位数:5工位
短边弯曲工位数:5工位
双向扭转工位数:5工位
外形尺寸:L670 X W380 X H220
仪器重量:70kg
电压:AC220V±5%
功率:35W
仪器加罩前的尺寸是:
长:74.5cm,宽:38cm 高:30cm
自主设计按标准执行双向扭转测试。
使用方法
(1) 仪器接通电源,将计数器,数值调到三个“0”,放上标准卡。
(2) 按扭曲启动按扭(此时只有点功能),看摇摆指针是否在±15°之间作往复运动。
(3) 按下弯曲启动按扭,使弯曲卡位处于距离 远,看指针分别在某一刻度,或者用卡尺测量台面到卡的高度,然后再按下弯曲启动按扭,使得弯曲卡位处于距离*近,看指针分别在另一刻度,或者用卡尺测量台面到卡顶端高度,两高度之差分别是10mm和20mm.
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